物联网技术

2019, v.9;No.99(05) 32-33+36

[打印本页] [关闭]
本期目录(Current Issue) | 过刊浏览(Past Issue) | 高级检索(Advanced Search)

微波暗室静区性能测量及影响因素分析

白昀初;

摘要(Abstract):

在天线、雷达等无线通信产品和电子设备的测试中,微波暗室是一个理想的场所,在民用、军事及专项工程领域得到了广泛应用,如何评估暗室的静区性能也变得愈发重要。基于测量静区反射电平的自由空间电压驻波比(VSWR法),给出了测量原理和具体的测量过程,以及测量系统的布置方案,并通过测量实例进行验证。结合实际测量中出现的问题,对可能影响测量结果的因素和需要注意的问题进行了分析,并提出了相应的解决方案,对微波暗室的日常使用维护和微波暗室性能测量系统的组建具有一定的参考价值。

关键词(KeyWords): 微波暗室;静区反射电平;VSWR法;影响因素;无线通信;性能测量

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 白昀初;

Email:

DOI: 10.16667/j.issn.2095-1302.2019.05.008

文章评论(Comment):

序号(No.) 时间(Time) 反馈人(User) 邮箱(Email) 标题(Title) 内容(Content)
反馈人(User) 邮箱地址(Email)
反馈标题(Title)
反馈内容(Content)
扩展功能
本文信息
服务与反馈
本文关键词相关文章
本文作者相关文章
中国知网
分享